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ZEISS crossbeam 350双束显微镜系统

发布日期:2025-10-11    浏览量:

用于样品微观形貌观测,同时具备精密定点离子束刻蚀、离子/电子束沉积功能,能谱及背散射衍射附件可实现微区成分分析、晶粒取向分布的测定。配备有冷却、加热及拉伸力学配件,可实现动态过程中的样品形貌及晶粒取向的观测。

主要技术参数:

电子東分辨率:0.9nm@15kV; 1.6nm@1.0kV

离子東分辨率:3nm@30 kV

加速电压范围:500V~30kV

冷/热台:-190℃-800℃

拉伸(压缩)台:最大载荷5000N

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